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探针,AFM探针,原子力显微镜探针,耗材
原子力AFM探针:VEECO为您提供范围zei广价格zei优惠的AFM探针。这些探针的悬臂都具有不同的几何尺寸和机械性能,能满足各种不同的需求:探针的工作模式:主要分为 扫描(接触)模式和
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Nano analytik 原子力显微镜
发展中,我们基于现有的和著名的先进技术,随着应用的不断发展,我们开发制造这些产品。 Nano analytik开发的扫描探针显微镜的针尖,它包含一个硅的悬臂梁,其上集成了传感器/执行器和功能化硅针尖
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NenoVision扫描电镜下AFM
提供PRS/A 探针压电电阻敏感有源(PRSA)探头是硅悬臂梁,具有集成的压电电阻桥和热加热器,用于自感应和自触发扫描探头显微镜应用。压电电阻集成到匹配的惠斯通电桥中,以优化灵敏度并补偿环境热漂移。由
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扫描探针显微镜(SPM/AFM/STM)
■ 操作简便,只需要更换探针架,即可切换于STM和AFM等模式 ■ 主控制系统采用德州仪器(TI)32位数字信号处理器(DSP),每秒可实现高达10亿次32位运算 ■ 主控
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扫描探针显微镜(SPM/AFM/STM)
进样,无需手工粗调 ● 只需要更换探针架,即可在STM和AFM等不同类型仪器中切换 ● 全数字控制,系统状态、仪器类型、扫描器和探针架参数智能识别和控制 ● 探头
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Anton Paar原子力显微镜
(Confocal Microscope) 。 仪器简介:原子力显微镜(AFM)或扫描探针(SPM)技术,是测量表面形貌或表面微小作用力准确有效的技术。位于悬臂梁末端的探针与试样表面接触,并对试样
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电阻探针腐蚀监测仪
电阻探针腐蚀监测仪是一完全由微机控制的全自动现场腐蚀监测仪器,采用高灵敏度电阻探针设计,能适用于气相、液相、以及复杂油、水、气多相体系的腐蚀连续监测。 仪器简介:CST400电阻探针腐蚀
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全自动多功能扫描探针显微镜/AFM
技术参数:测量模式: STM/ AFM (接触 + 轻敲+非接触)/ 横向力/ 相位/ 力调制/力谱/粘附力/ 磁力/静电力/ 开尔文/ 扩展电阻/纳米压痕/纳米刻蚀: AFM (电压刻蚀
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MicroNano AFM-II型扫描探针显微镜
技术参数 1.扫描系统: 1.1 扫描模式:STM恒流/恒高模式,I-Z/I-V曲线;AFM接触/横向力模式,力曲线测量 1.2 zei大扫描范围:50μm*50
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THETA PROBE全新平行角分辨XPS微探针
高灵敏度小面积XPS能谱分析 高性能深度剖析-可进行表面与界面、三维成分深度分布分析 采用VGzl的快速平行角分辨XPS技术, 无需倾斜样品台就可在样品上原位同时快速获得多个角度(zei
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